Русский
  • English
  • 中文

    • Решение

    Решение

    дома / Решение/Модуль питания

    Модуль питания

    Индустрия силовых модулей в настоящее время сталкивается с резким ростом спроса на испытания KGD (Known Good Die). Из-за колебаний выхода годных кристаллов третьего поколения (SiC/GaN) (примерно 65–85%) производители должны гарантировать надежность кристалла с помощью динамического испытания на принудительный отказ (циклирование от -55 °C до 175 °C) и 3D рентгеновского контроля. Затраты на тестирование в настоящее время составляют 15–20% от общей стоимости модуля. Мировой рынок испытывает дефицит высококлассных компонентов и конкурентоспособный рынок среднего класса. Процент успешного прохождения испытаний KGD для автомобильных модулей SiC составляет менее 60%, что вынуждает производителей испытательного оборудования разрабатывать интегрированные решения, включающие зондовые станции, анализаторы теплового сопротивления и испытательные камеры THB. Китайские компании добились замещения отечественного производства в испытаниях KGD фотоэлектрических модулей, но испытания автомобильного класса по-прежнему полагаются на зондовые технологии японской Advantest и немецкой Cascade.
    Модуль питания

    КЛЮЧЕВЫЕ МОМЕНТЫ

    Испытательное и сортировочное оборудование KGD должно преодолеть три основные технические проблемы: высоковольтные и сильноточные испытания (>1600 В/100 А), параллельная проверка надежности нескольких кристаллов (интенсивность отказов <0,001%) и моделирование условий эксплуатации при высоких температурах (-55 °C...200 °C).

    В настоящее время выход годного из автомобильных SiC-модулей составляет менее 60%, что вынуждает к модернизации оборудования.

    Решения включают в себя герметичные азотом зонды для предотвращения искрения, шестисторонний AOI для обнаружения микротрещин и параллельную архитектуру многоиспытательной станции для повышения эффективности.

    Однако срок службы высокотемпературных зондов и скорость локализации остаются ключевыми проблемами. Отрасль ускоряет переход на испытательное оборудование третьего поколения, предназначенное для полупроводников, и затраты на тестирование уже составляют 15%-20% от общей стоимости модуля.

    НАША РЕКОМЕНДАЦИЯ

    ‌Тестовая сортировка КГД

    1.Интеграция высоковольтных динамических испытаний‌ Разработать герметичную азотом систему зондов с выдерживаемым напряжением ≥2500 В, объединяющую функции испытания энергии лавинного пробоя и сбора динамических параметров для удовлетворения требований проверки высокого напряжения и тока (>1600 В/100 А), которые не могут быть удовлетворены традиционными испытаниями катодной защиты. 

    2. многомерное обнаружение дефектов‌ Шестисторонний оптический контроль AOI (точность 10 мкм) используется для одновременного выявления микротрещин при резке, контролируя уровень ошибок до <0,5%. 

    3. Архитектура параллельного контроляРазработайте гибкую конфигурацию нескольких испытательных станций для поддержки зон с различными температурными условиями (например, комнатная температура)/Высокотемпературное синхронное тестирование) и параллельное выполнение проекта для улучшения УФХ

    Узнать больше

    РЕЗУЛЬТАТЫ ПОДАЧИ ЗАЯВКИ

    РЕЗУЛЬТАТЫ ПОДАЧИ ЗАЯВКИ

    Связаться с нами

    Ведущая интеллектуальная технологическая компания Гуанчжоу

    Где бы вы ни находились и каковы ваши потребности, Top-leading окажет вам всестороннюю поддержку. Свяжитесь с нами в любое время или заполните форму ниже, чтобы сообщить нам о своих потребностях.
    • Afghanistan
    • Albania
    • Algeria
    • American Samoa
    • Andorra
    • Angola
    • Anguilla
    • Antarctica
    • Antigua and Barbuda
    • Argentina
    • Armenia
    • Aruba
    • Australia
    • Austria
    • Azerbaijan